Storyboard

Partículas energéticas desplazan átomos de la red (daño por desplazamiento) o depositan carga que puede voltear el estado de un nodo de memoria (single event upset).

>Modelo

ID:('ky', 1741)

Storyboard

$\Phi_{t+\Delta t}=\Phi_t+\phi,\Delta t$

Variables

$Phi$

Fluencia acumulada

$1/m²$

$phi$

Flujo de partículas

$1/m²s$

$Delta t$

Paso temporal

$s$

>Modelo

ID:('gm', 15000)

Storyboard

$N_d=K_{damage}NIEL\Phi$

Variables

$K_{damage}$

Constante de daño

$1$

$N_d$

Densidad relativa de defectos desplazados

$1$

$NIEL$

Pérdida no ionizante equivalente

$1$

$Phi$

Fluencia acumulada

$1/m²$

>Modelo

ID:('gm', 15001)

Storyboard

$\tau_a=\frac{1}{\frac{1}{\tau_b}+K_\tau\Phi}$

Variables

$Phi$

Fluencia acumulada

$1/m²$

$K_ au$

Constante Messenger-Spratt

$m²$

$ au_a$

Vida media degradada

$s$

$ au_b$

Vida media inicial

$s$

>Modelo

ID:('gm', 15002)

Storyboard

$Q_{crit}=CV_{dd}$

Variables

$Q_{crit}$

Carga crítica para upset

$C$

$C$

Capacitancia del nodo

$F$

$V_{dd}$

Voltaje de alimentación

$V$

>Modelo

ID:('gm', 15003)

Storyboard

$SEU=1\ \text{si}\ Q_{dep}\ge Q_{crit}$

Variables

$SEU$

Condición lógica de upset

$1$

$Q_{crit}$

Carga crítica para upset

$C$

$Q_{dep}$

Carga depositada/colectada

$C$

>Modelo

ID:('gm', 15004)

Storyboard

$P_{SEU}=1-e^{-\sigma_{SEU}\Phi,SEU}$

Variables

$SEU$

Condición lógica de upset

$1$

$P_{SEU}$

Probabilidad acumulada de upset

$1$

$Phi$

Fluencia acumulada

$1/m²$

$sigma_{SEU}$

Sección eficaz de upset

$m²$

>Modelo

ID:('gm', 15005)

Descripción

Red de modelo

• Método alternativo
• Método tradicional
• Estrategia
• 2D
• 3D

Ecuación

Número

Primero, seleccione la ecuación:   a ,  luego, seleccione la variable:   a 

---

Símbolo

Ecuación

Resuelto

Traducido

Cálculos

Símbolo

Ecuación

Resuelto

Traducido

 Variable   Dado   Calcule   Objetivo :   Ecuación   A utilizar

Variables

$SEU$

SEU_active

Condición lógica de upset

1

$K_{damage}$

K_damage

Constante de daño

1

$N_d$

N_displaced

Densidad relativa de defectos desplazados

1

$NIEL$

NIEL

Pérdida no ionizante equivalente

1

$P_{SEU}$

P_SEU

Probabilidad acumulada de upset

1

$Phi$

Phi_fluence

Fluencia acumulada

1/m²

$phi$

phi_rate

Flujo de partículas

1/m²s

$Q_{crit}$

Q_crit

Carga crítica para upset

C

$Q_{dep}$

Q_dep

Carga depositada/colectada

C

$C$

C_node

Capacitancia del nodo

F

$V_{dd}$

V_dd_supply

Voltaje de alimentación

V

$K_ au$

K_tau

Constante Messenger-Spratt

m²

$sigma_{SEU}$

sigma_SEU

Sección eficaz de upset

m²

$Delta t$

dt

Paso temporal

s

$ au_a$

tau_after

Vida media degradada

s

$ au_b$

tau_before

Vida media inicial

s

ID:(0, 1741)