Storyboard

Mismo mecanismo estadístico que en Cerámica A1 el vidrio es, de hecho, el sistema canónico donde se caracterizó originalmente la dispersión de resistencia por defectos superficiales submicroscópicos ("flaws" de Griffith).

>Modelo

ID:('ky', 1760)

Storyboard

$P_f=1-\exp[-\frac{V_{eff}}{V_0}(\frac{\sigma_{applied}}{\sigma_{0,weib}})^{m_{weib}}]$

Variables

$m_{weib}$

Módulo de Weibull

$1$

$P_f$

Probabilidad de falla

$1$

$sigma_{applied}$

Esfuerzo aplicado

$Pa$

$sigma_{0,weib}$

Resistencia característica Weibull

$Pa$

$V_0$

Volumen de referencia

$m³$

$V_{eff}$

Volumen efectivo

$m³$

>Modelo

ID:('gm', 15110)

Storyboard

$\frac{\sigma_1}{\sigma_2}=(\frac{V_2}{V_1})^{1/m_{weib}}$

Variables

$m_{weib}$

Módulo de Weibull

$1$

$sigma_1/sigma_2$

Razón de resistencia por escala

$1$

$V_1$

Volumen caso 1

$m³$

$V_2$

Volumen caso 2

$m³$

>Modelo

ID:('gm', 15111)

Storyboard

$\sigma_f=\sqrt{\frac{2E_Y\gamma_s}{\pi a_c}}$

Variables

$E_Y$

Módulo de Young

$Pa$

$sigma_f$

Resistencia crítica Griffith

$Pa$

$gamma_s$

Energía superficial

$J/m²$

$a_c$

Tamaño crítico de defecto

$m$

>Modelo

ID:('gm', 15112)

Storyboard

$S=1-P_f$

Variables

$P_f$

Probabilidad de falla

$1$

$S$

Supervivencia

$1$

>Modelo

ID:('gm', 15113)

Storyboard

$FS=\frac{\sigma_f}{\sigma_{applied}}$

Variables

$FS$

Margen crítico

$1$

$sigma_{applied}$

Esfuerzo aplicado

$Pa$

$sigma_f$

Resistencia crítica Griffith

$Pa$

>Modelo

ID:('gm', 15114)

Storyboard

$\sigma_{applied}^{n+1}=\sigma_{applied}^{n}+\dot\sigma\Delta t$

Variables

$sigma_{applied}$

Esfuerzo aplicado

$Pa$

$dotsigma$

Tasa de carga

$Pa/s$

$Delta t$

Paso temporal

$s$

>Modelo

ID:('gm', 15115)

Descripción

Red de modelo

• Método alternativo
• Método tradicional
• Estrategia
• 2D
• 3D

Ecuación

Número

Primero, seleccione la ecuación:   a ,  luego, seleccione la variable:   a 

---

Símbolo

Ecuación

Resuelto

Traducido

Cálculos

Símbolo

Ecuación

Resuelto

Traducido

 Variable   Dado   Calcule   Objetivo :   Ecuación   A utilizar

Variables

$FS$

FS

Margen crítico

1

$m_{weib}$

m_weib

Módulo de Weibull

1

$P_f$

P_f

Probabilidad de falla

1

$sigma_1/sigma_2$

sigma_ratio

Razón de resistencia por escala

1

$S$

S_surv

Supervivencia

1

$sigma_{applied}$

sigma_applied

Esfuerzo aplicado

Pa

$E_Y$

E_Y

Módulo de Young

Pa

$sigma_{0,weib}$

sigma_0_weib

Resistencia característica Weibull

Pa

$sigma_f$

sigma_f

Resistencia crítica Griffith

Pa

$gamma_s$

gamma_s

Energía superficial

J/m²

$dotsigma$

sigma_rate

Tasa de carga

Pa/s

$a_c$

a_c

Tamaño crítico de defecto

m

$V_1$

V_1

Volumen caso 1

m³

$V_2$

V_2

Volumen caso 2

m³

$V_0$

V_0

Volumen de referencia

m³

$V_{eff}$

V_eff

Volumen efectivo

m³

$Delta t$

dt

Paso temporal

s

ID:(0, 1760)